X射(she)線(xian)(xian)是具備相應波長的(de)電磁波或(huo)帶有相應能量(liang)的(de)光子束。X射(she)線(xian)(xian)的(de)波長和(he)能量(liang)介于(yu)γ-射(she)線(xian)(xian)和(he)紫外線(xian)(xian)之間。其波長范(fan)圍(wei)為0.01-10nm；對應的(de)能量(liang)范(fan)圍(wei)為0.125-125Kev。

小(xiao)角散(san)射（Small Angle X-ray Scattering，SAXS）：如果樣(yang)本具有不同電子密度(du)(du)的(de)周期性結(jie)構，X射線(xian)(xian)被不相(xiang)干散(san)射，散(san)射 X 射線(xian)(xian)的(de)角度(du)(du)就與入(ru)射 X 射線(xian)(xian)的(de)角度(du)(du)相(xiang)差很小(xiao)（一般2θ≤ 5°），稱為小(xiao)角X射線(xian)(xian)散(san)射效應。主要用于研究亞微米(mi)尺度(du)(du)的(de)固態及(ji)液(ye)態樣(yang)品結(jie)構。

小(xiao)角(jiao)散射效益來自物質內部1～100nm量(liang)級范圍內電子密度的(de)起(qi)伏，通過(guo)對小(xiao)角(jiao)X射線(xian)散射圖或(huo)散射曲線(xian)的(de)計算和分析(xi)即可推導出微結構的(de)形(xing)狀(zhuang)、大小(xiao)、分布及含量(liang)等信(xin)息。這(zhe)些(xie)微結構可以是孔洞(dong)、粒(li)(li)(li)子、缺陷、材(cai)料中的(de)晶粒(li)(li)(li)、非(fei)晶粒(li)(li)(li)子結構等。

廣角散(san)射(she)（Wide Angle X-ray Scattering，WAXS）：如果(guo)樣(yang)本具有周(zhou)期性(xing)結構（晶區），X射(she)線被相干散(san)射(she)，入射(she)光和散(san)射(she)光之間(jian)沒(mei)有波長的改變(bian)，這(zhe)個過程稱為 廣角X射(she)線衍射(she)。主(zhu)要用于研(yan)究較(jiao)晶體結構和非晶體結構。

與小角散射(she)(she)(she)相比，廣(guang)角散射(she)(she)(she)的散射(she)(she)(she)角度較大，可以覆蓋從幾度到幾十度的范圍。通(tong)過檢測廣(guang)角散射(she)(she)(she)信號，可以獲(huo)得關于晶(jing)體晶(jing)格參數、晶(jing)胞體積、顆(ke)粒(li)(li)尺(chi)寸和顆(ke)粒(li)(li)形貌等信息(xi)。

SAXS -  WAXS表征

• 基(ji)于Empyrean平(ping)臺和Pre-FIX預校準概 念，為(wei)納(na)米材料(liao)研究/小角散射(she)(she)專家特(te)殊定制的 高性(xing)能多功能散射(she)(she)研究平(ping)臺

• 操作簡單，無需校準

• 高性能散射(she)研究平臺，但不局(ju)限于(yu)散射(she)

  （1D/2D SAXS/WAXS；USAXS；GI-SAXS；PDF；CT)

• Empyrean Nano版+PIXcel3D 基于銅(tong)靶應用

• Empyrean Nano版+GaliPIX3D 兼顧對分(fen)布函數(shu)（PDF）分(fen)析

• 高(gao)分辨光管+聚(ju)焦透鏡+ScatterX78+3D探測器

• 2D WAXS, 最低2theta 0.1°, 最高±22°（PIXcel）或±30°（GaliPIX）

• 變(bian)溫毛細管樣品架，溫度范圍5-70℃

• Scatter X78 樣品架能(neng)實(shi)現液體(ti)，固體(ti)，纖維等納米材料分(fen)(fen)析，儀器自動校準光路，真(zhen)空啟動3分(fen)(fen)鐘即可測(ce)試樣品。