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Mastersizer 3000 馬爾文帕納科激光粒度儀可為干濕法分散提供快速、便捷的粒徑分布測試。 該分析儀可在納米至毫米粒度范圍內進行測量,體積小巧、性能穩定可靠,可為所有用戶提供無需操作者干預的...
Mastersizer 3000E馬爾文帕納科激光粒度儀有些客戶眼下并不需要Mastersizer 3000所提供的高級功能,入門級儀器馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000E,它以 ...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
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X射線熒光光譜儀是一種基于X射線熒光原理的分析儀器,其核心在于利用初級X射線激發樣品中的原子,使其內層電子躍遷至高能級,當電子返回低能級時,釋放出的能量以X射線的形式釋放,即熒光。通過對這些熒光的能量和強度進行分析,可以確定樣品中的元素種類及其含量。應用領域廣泛:X射線熒光光譜儀在多個領域都有著廣泛的應用。在地質勘探中,它可以快速分析巖石和礦石中的元素組成;在環保領域,用于監測土壤和水體中的重金屬含量;在工業生產中,它可用于質量控制和產品檢測。此外,X射線熒光光譜儀還在考古、...
X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器,通過衍射現象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時,會發生衍射現象,即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息,并通過衍射圖樣的分析,推斷出物質的晶體結構和晶體學參數。在操作X射線衍射儀時,需要留意以下細節以確保準確性和安全性:1、安全操作:使用時,必須遵守...
顆粒物是一種常見的物質形態,其粒徑分布對于許多領域的研究和應用具有重要意義。激光粒度分布儀是一種基于激光散射原理的儀器,能夠快速、準確地測量顆粒物的粒徑分布。激光粒度分布儀是一種常用于顆粒物分析的儀器,通過激光散射原理實現對顆粒物粒徑分布的測量。是通過激光束照射顆粒物樣品,測量散射光的強度和角度分布,從而推斷顆粒物的粒徑分布。根據散射光的強度和角度,可以利用光學原理和數學模型計算出顆粒物的粒徑大小和分布情況。激光粒度分布儀其結構特點主要包括以下幾個方面:1、激光發生器:使用激...
X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器,通過衍射現象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時,會發生衍射現象,即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息,并通過衍射圖樣的分析,推斷出物質的晶體結構和晶體學參數。X射線衍射儀的主要應用范圍:1、材料表征和分析:可用于對材料的結構、相組成和晶體結構進行表...