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  • 發布時間:2022-09-12

    粉(fen)末衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)儀是一種(zhong)基于X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)原理的(de)(de)儀器,廣泛應用(yong)于材料(liao)(liao)(liao)科學和相關(guan)領(ling)域。它可以(yi)通過(guo)分(fen)析(xi)樣品(pin)的(de)(de)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)圖案(an)(an)(an),獲得材料(liao)(liao)(liao)的(de)(de)晶(jing)體(ti)結構(gou)信(xin)息、晶(jing)格參數(shu)、相變(bian)行(xing)為等重要(yao)數(shu)據。基于X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)原理進(jin)行(xing)工作。當X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)照射(she)(she)(she)(she)到晶(jing)體(ti)樣品(pin)上時,晶(jing)體(ti)中的(de)(de)原子(zi)會(hui)對X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)進(jin)行(xing)散射(she)(she)(she)(she),形成(cheng)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)圖案(an)(an)(an)。通過(guo)分(fen)析(xi)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)圖案(an)(an)(an),可以(yi)得到晶(jing)體(ti)的(de)(de)結構(gou)信(xin)息。粉(fen)末衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)儀通常采(cai)用(yong)旋(xuan)轉(zhuan)樣品(pin)法,即通過(guo)旋(xuan)轉(zhuan)樣品(pin)收集不同角度下的(de)(de)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)數(shu)據,然后(hou)利用(yong)計算方(fang)法進(jin)行(xing)數(shu)據處理和分(fen)析(xi)。粉(fen)末衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)儀功(gong)能的(de)(de)一些詳細介紹:1、材料(liao)(liao)(liao)組成(cheng)分(fen)析(xi):可以(yi)通過(guo)分(fen)析(xi)樣品(pin)的(de)(de)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)(she)圖案(an)(an)(an)...

  • 發布時間:2022-09-08

    納(na)(na)(na)米(mi)(mi)(mi)顆(ke)粒跟(gen)蹤(zong)分析(xi)儀(yi)(yi)是一種能夠實時監測納(na)(na)(na)米(mi)(mi)(mi)顆(ke)粒動態行為的(de)(de)儀(yi)(yi)器(qi)。該(gai)技術被(bei)廣(guang)泛應(ying)用于納(na)(na)(na)米(mi)(mi)(mi)材(cai)料研(yan)究(jiu)、生(sheng)物醫(yi)學、環境科學等領(ling)域。原(yuan)理(li)是利用激光(guang)束照(zhao)射樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin),觀察(cha)樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)中納(na)(na)(na)米(mi)(mi)(mi)顆(ke)粒的(de)(de)布朗運動,并通過(guo)圖像(xiang)處理(li)技術對顆(ke)粒的(de)(de)位置進(jin)行跟(gen)蹤(zong)。通過(guo)采(cai)集大量顆(ke)粒的(de)(de)位置信息(xi),可(ke)(ke)以(yi)得(de)到顆(ke)粒的(de)(de)大小、濃度、形(xing)狀(zhuang)等信息(xi)。使用納(na)(na)(na)米(mi)(mi)(mi)顆(ke)粒跟(gen)蹤(zong)分析(xi)儀(yi)(yi)的(de)(de)操作流程(cheng)通常包括樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)制(zhi)備、儀(yi)(yi)器(qi)預熱、樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)注入、數據采(cai)集等步驟(zou)。樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)制(zhi)備的(de)(de)要求較高,需要避免樣(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)中存在(zai)大顆(ke)粒和異物干擾。在(zai)數據采(cai)集后,可(ke)(ke)通過(guo)分析(xi)軟件對數據進(jin)行處理(li),如(ru)計算平(ping)均直徑...

  • 發布時間:2022-08-11

    X射(she)(she)線(xian)熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)是一種重要(yao)的(de)(de)分(fen)析(xi)儀(yi)器,廣泛應用于(yu)(yu)材料科學(xue)、地質(zhi)學(xue)、環境監測等(deng)領(ling)域。其原(yuan)理基于(yu)(yu)物(wu)質(zhi)在(zai)受(shou)激輻射(she)(she)下產生特(te)定(ding)能(neng)量的(de)(de)熒(ying)光(guang)(guang)現(xian)象(xiang)。當樣品暴露于(yu)(yu)高能(neng)X射(she)(she)線(xian)束時,內部(bu)原(yuan)子被激發(fa)并(bing)躍遷到較高能(neng)級(ji)。隨后,這(zhe)些原(yuan)子會釋(shi)放出X射(she)(she)線(xian)能(neng)量,并(bing)以特(te)定(ding)的(de)(de)頻率進行熒(ying)光(guang)(guang)發(fa)射(she)(she)。光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)通(tong)過收集(ji)和(he)分(fen)析(xi)這(zhe)些發(fa)射(she)(she)的(de)(de)X射(she)(she)線(xian)能(neng)量,可以確定(ding)樣品中元(yuan)素的(de)(de)成分(fen)和(he)濃度。X射(she)(she)線(xian)熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)具有許多優(you)勢。首先,它是非破壞性(xing)的(de)(de)分(fen)析(xi)方法,樣品在(zai)測試過程中不需要(yao)毀壞或(huo)改變其形(xing)態。這(zhe)使(shi)得(de)可以對寶貴的(de)(de)或(huo)難以獲取的(de)(de)樣品進行準確的(de)(de)分(fen)析(xi)。其...

  • 發布時間:2022-08-04

    X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)是一種(zhong)常用的(de)(de)分(fen)析(xi)儀(yi)器,利(li)用X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)特性(xing)(xing),通(tong)過(guo)測(ce)量樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)中(zhong)發(fa)射(she)(she)(she)(she)(she)的(de)(de)熒(ying)光(guang)X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能譜,分(fen)析(xi)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)元(yuan)素成分(fen)和結構(gou)信息。基于X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)特性(xing)(xing)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)。當X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)照射(she)(she)(she)(she)(she)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)時,樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)中(zhong)的(de)(de)原子(zi)會(hui)吸收X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)能量,激發(fa)內層電子(zi)躍遷至高能級,形(xing)成空位。隨(sui)后,樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)中(zhong)的(de)(de)其(qi)他電子(zi)會(hui)填補這些(xie)空位,釋放出熒(ying)光(guang)X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)。X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)通(tong)過(guo)測(ce)量這些(xie)熒(ying)光(guang)X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)能譜,可以確定樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)中(zhong)的(de)(de)元(yuan)素成分(fen)和結構(gou)信息。以下是對X射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)的(de)(de)優點進(jin)行(xing)分(fen)析(xi):1、非破(po)壞(huai)性(xing)(xing)分(fen)析(xi):是一種(zhong)非破(po)壞(huai)性(xing)(xing)分(fen)析(xi)方法,不需要對樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)進(jin)行(xing)物理或化...

  • 發布時間:2022-07-31

    新品優惠來啦!馬爾文(wen)(wen)帕(pa)納(na)科生命科學類儀(yi)器,購(gou)(gou)買(mai)差式掃(sao)描熒光儀(yi)SUPR-DSF,贈(zeng)送(song)Zetasizer納(na)米(mi)粒(li)度電位儀(yi)!購(gou)(gou)買(mai)分(fen)子(zi)互(hu)作或穩定性分(fen)析儀(yi)器套裝,享(xiang)最高優惠200萬(wan)元!更多優惠,掃(sao)描下方二維(wei)碼了解(jie)詳情!關(guan)于(yu)MalvernPanalytical馬爾文(wen)(wen)帕(pa)納(na)科由英國馬爾文(wen)(wen)儀(yi)器(Malvern)和荷(he)蘭帕(pa)納(na)科(PANalytical)合并而成,屬于(yu)思(si)百吉集團(tuan)的(de)主要平臺(tai)公司(si),是材(cai)料表征領(ling)域的(de)專(zhuan)家及多項創(chuang)新技術的(de)發明者(zhe)。公司(si)擁有在業內享(xiang)有盛(sheng)名的(de)顆粒(li)表征、分(fen)子(zi)結構、微(wei)量熱和X射線分(fen)析技術...

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