一、XRF測試條件

1、厚度

a.試料厚度zui少3mm以上才行；

b.不足時用同樣的Sample層疊后測試。

2、長度

=>采取Sample時，試料長度zui少3mm以上才行。

3、試料面

=>試料盡可能平面部位里采取。

4、符合材質

=>單一材質(homogeneousmaterial)狀態下分離或,從供給社接到供給實施XRF評價。

5、粉碎/液晶試料

=>單一材質狀態試料非常小或PowderType或液狀試料情況下,用別度試料容器MylarFilm堵住一邊,容器內將試料填滿后X線不能通過實施分析

=>引用電溶液有機容器有擴散的可能性XRF分析不可能

二、判定基準

1、對不適合品對一個的Sample其他部位zui少3回以上測定后標記平均值

2、單一材質狀態是PVC材質的情況下XRF分析結果以當社管理基準-10%,+30%為止通過精密分析判定合/不,其以上的情況下無需精密分析進行不合格處理.

3、對非常小的Chip部品或分離不可能的部品以部品狀態實施XRF評價脫離Spec情況下從供給業體開始單一材質別度接收供給后再實施XRF評價。

4、可圖章的顏色不合格時從部品業體開始以固化的材料接收后實施XRF再評價。

三、發生可能性問題

1、ROHS6代成分中一部分不能立即判定:A.Br時T-Br管理B.Cr時不好區分Cr和Cr6+

2、試料是否精密:分析試料特別小或不好分析時也有。

3、分析時其他成分妨害